4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能***电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试
(I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。
Tektronix泰克 4200A-SCS 参数分析仪是一种可以量身定制、全面集成
的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为性能***的参数分析仪, 4200A-SCS
加快了半导体、材料和工艺开发速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的软件提供了清楚的、不折不 扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时 可以投入使用的应用测试,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究过程,快速而又满怀信心。
4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配 置,不管是现在还是未来,都可以随时对系统进行升级。通过 4200A-SCS 参数分析仪,通往发现之路现在变得异常简便。

主要性能指标
I-V 源测量单元(SMU)
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± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块
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100 fA测量分辨率
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选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率
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10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量
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100 μF负载电容
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四象限操作
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2 线或 4 线连接
C-V 多频率电容单元(CVU)
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AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)
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1 kHz - 10 MHz 频率范围
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± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源,可以扩展到± 210 V(420 V 差分)
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选配 CVIV 多通道开关,在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)
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两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道
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200 MSa/s,5 ns 采样率
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±40 V (80 V p-p),±800 mA
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瞬态波形捕获模式
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任意波形发生器 Segment ARB? 模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率
高压脉冲发生器单元(PGU)
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两个高速脉冲电压源通道
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±40 V (80 V p-p),± 800 mA
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任意波形发生器 Segment ARB?模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV)
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在 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换,无需重新布线或抬起探针
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把 C-V测量移动到任意端子,无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(RPM)
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在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换
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把 4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安
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降低电缆电容效应
远程前端放大器 / 开关模块 (RPM)
● 在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换
● 把 4225-PMU 的电流灵敏度扩展到数十皮安
● 降低电缆电容效应
技术优势:
1、随时可以投入使用、可以修改的应用测试、项目和器件,缩短测试开发时间
2、内置测量视频的仪器,测试视频由全球应用工程师提供,分为4种语言,缩短学习周期
3、pin to pad接触检查,确保测量可靠
4、多种测量功能
5、数据显示、分析和代数运算功能
6、专家视频,降低特性分析复杂度,观看吉时利全球应用工程师制作的内置视频,迅速掌握应用,缩短学习周期。数小时的专家测量专业帮助,在发生意想不到的结果或对怎样设置测试存在疑问时,将为您提供指引。Clarius Software短专家视频支持四种语言(英语、中文、日语和韩语),可以迅速让你洞察先机。
7、大量随时可以使用的应用测试可供选择,通过Clarius库中装备的450多项应用测试,您=可以选择或修改预先定义的应用测试,加快特性分析速度,或从一开始简便地创建自定义测试。只需三步,Clarius Software就可以引导新用户像专家一样完成参数分析。
8、实时结果和参数,自动数据显示、算法分析和实时参数提取功能,加快获得所需信息的速度。不必担心数据丢失,因为所有历史数据都会保存下来。
9、无需示波器检验脉冲测量,脉冲定时预览模式可以简便地查看脉冲定时参数,确认脉冲式I-V测试按希望的方式执行。使用瞬态I-V或波形捕获模式,进行基于时间的电流或电压测量,而无需使用外部示波器。
应用方向:
MOSFET, BJT 晶体管;材料特性分析;非易失性存储设备;电阻率系数和霍尔效应测量;NBTI/PBTI;III-V 族器件;失效分析;纳米器件;二极管和 pn 联结;太阳能电池;传感器;MEMS器件;电化学;LED和OLED。
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型号 |
描述 |
4200A-SCS-PKA
高分辨率 IV 套件 |
4200A-SCS:参数分析仪主机
4201-SMU:两个用于高容量设置的中功率 SMU
4200-PA:一个预放大器
8101-PIV:一个带有采样装置的测试夹具 |
4200A-SCS-PKB
高分辨率 IV 和 CV 套件 |
4200A-SCS:参数分析仪主机
4201-SMU:两个用于高容量设置的中功率 SMU
4200-PA:一个预放大器
4215-CVU:一个高分辨率多频 C-V 单元
8101-PIV:一个带有采样装置的测试夹具 |
4200A-SCS-PKC
高功率 IV 和 CV 套件 |
4200A-SCS:参数分析仪主机
4201-SMU:两个用于高容量设置的中功率 SMU
4211-SMU:两个用于高容量设置的高功率 SMU
4200-PA:两个预放大器
4215-CVU:一个高分辨率多频 C-V 单元
8101-PIV:一个带有采样装置的测试夹具 |
4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件 |
用于使用***硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括: -
1 个 4225-PMU 超快 I-V 模块
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2 个 4225-RPM 远程预放大器/开关模块
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自动化检定套件 (ACS) 软件
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超快 BTI 测试项目模块
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布线
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为材料、半导体器件和工艺开发提供***的参数分析仪